多重解像度画像を用いた液晶ディスプレイ輝度むら欠陥検出
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 公益社団法人精密工学会の論文
- 1997-05-05
著者
関連論文
- カラー画像処理による半導体モジュール放熱用ピストン配置検査
- 多重解像度画像を用いた液晶ディスプレイ輝度むら欠陥検出
- 液晶ディスプレイ画質検査装置における画素欠陥検出手法
- フリップチップ実装における濃淡画像処理による部品位置決め手法
- 複数2次元パラメータ空間を用いた一般化Hough変換による部品認識
- 半導体チップ搭載機におけるハフ変換によるモジュール基板上円形パッド位置抽出
- 部分ランダム探索と適応型探索による半導体チップ画像テンプレートマッチング
- 遺伝的アルゴリズムによる液晶ディスプレイ領域輝度むら検出
- 群化の要因に基づく遺伝的アルゴリズムを用いた輪郭線抽出手法
- 2次元パラメータ空間を用いた一般化ハフ変換による回転図形の抽出
- 回転不変特徴パターンを用いたニューラルネットワークによる輪郭点抽出
- 2次元ハフ空間を用いた六角ナット高速認識手法