1-34.赤外線の強度測定に対する試料の層の厚さの影響(物理化学)(第11回定期講演會講演要旨)

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概要

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• 宇宙航空研究開発機構の論文
• 1954-12-04

著者

• 八角 正士

  東京大学理工学研究所

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