<研究報告>誤り検出技法の視覚化(<特集>第9回関東高専卒業研究発表交流会参加学生論文)

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概要

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• Error Detection Technology is measuring the trouble in an integrated circuit. It is very difficult understanding. And so. We have trying the visible this technology for easy understands.

著者

• 生方 俊典

  都立航空高専電子工学科

• 樋口 聡二郎

  都立航空高専電子工学科

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