4.4 内殻励起電離に伴なう種々の過程
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概要
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1. 内殻電子の電離の後に, 様々のイオン化の種々の電子状態に崩壊する確率が, Ar L-shellについて調べられている。2. Anger過程(例えば, Ar L-MM (2p^<-1>→3s^23p^4,3s'3p^5,3s°3p^6))より生ずる放出電子のエネルギー・スペクトルは多数測定され, 同定も確立している。その他にCoster-Kronig過程と呼ばれる終状態が短寿命なAr L_1-L_<23>M_<23>のような過程もある。3. 放出電子エネルギー・スペクトルにサテライトを生ずる過程としては, 以下のものがある。3-1. 普通のAnger過程では単に空孔を生ずる電子が電離してしまわずに励起状態に入り, そこに留まったままAnger過程が生ずるもの。3-2. 通常の空孔の他にもう1つの空孔が生ずるため(shake off), 通常の空孔の他にもう1つの空孔と励起状態電子が生ずるため(shake up) 3-3. Coster-Kronig過程に続いて生ずるもの。4. 通常のAnger過程のように1つの電子が放出される代りに, もう1つの電子が励起または, 電離されるDouble Anger過程も存在する。4-1. 前者はdiscrete double Angerと呼ばれて, サテライト・ピークを生じ, 親のピークとの比が波動函数の混り合いを与える。4-2. 後者のcontinuum double Anger; shake off theoryとの一致は, 良くない。5. radiative Anger過程として, 特性X線に付隨して, 主な遷移を起こす時に, 同時にもう1つ電子が, 弱い遷移を生じて, 長波長側にサテライト生ずる。これら諸過程は, 内殻励起が著るしいと思われるヴァキューム・スパーク・プラズマ中で重要になるかもしれない。
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