光ネットワークにおけるクロストークによる強度ゆらぎと符号誤り率特性の劣化
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概要
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- 2012-01-19
著者
-
山口 義昭
日本工業大学
-
吉野 隆幸
東京電機大学工学部
-
齋藤 純一
東京電機大学工学部
-
張 豪
東京電機大学工学部
-
阿部 真弓
東京電機大学 工学部
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齋藤 純一
東京電機大学 工学部
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吉野 隆幸
東京電機大学 工学部
-
張 豪
東京電機大学 工学部
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