中性子による残留応力測定の基礎
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2011-02-01
著者
関連論文
- 鉛フリーはんだにおけるモードIおよびII荷重条件下での疲労き裂進展
- 回折法による材料評価の新しい展開 : 1. 溶接残留応力とX線残留応力測定
- 中性子による残留応力測定の基礎
- 透過白色X線によるオーステナイト系ステンレス鋼薄板の応力測定
- 回折プロファイルに及ぼすX線照射領域内のひずみ分布の影響
- 六方晶AlN薄膜の膜性状と強度特性評価
- 熱間加工ネオジム磁石の曲げ強度に及ぼす微視組織の影響
- 第46回X線材料強度に関するシンポジウム開催報告