ECT技術を用いたプリント基板検査 : 数値解析と画像処理による欠陥判定
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概要
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- 1998-12-16
著者
-
山田 外史
金沢大学
-
岩原 正吉
金沢大学
-
谷口 哲樹
金沢大学
-
宮腰 貴久
金沢大学院
-
カスプラザック ダリウス
金沢大学院
-
KACPRZAK Dariusz
金沢大学院
-
宮腰 貴久
金沢大学工学部附属電磁場制御実験施設
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