Thorough Investigation of Kink-Related Excess Noise in Deep Submicron SOI N-MOSFETs on Unibond Substrate

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概要

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• 1999-09-20

著者

• Pelloie J.

  Leti-cea (dmel/ceng)

• Raynaud C.

  Leti-cea (dmel/ceng)

• HAENDLER S.

  LPCS/ENSERG (UMR CNRS/INPG)

• JOMAAH J.

  LPCS/ENSERG (UMR CNRS/INPG)

• BALESTRA F.

  LPCS/ENSERG (UMR CNRS/INPG)

• BOUSSEY J.

  LPCS/ENSERG (UMR CNRS/INPG)

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