第3章 ナノ粒子の計測と分析3. 2 X線を用いたナノ粒子の設計・分析技術 : XRD, X線顕微鏡, 小角散乱, X線吸収分光, シンクロトロン

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概要

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• 2007-04-20

著者

• 田口 武慶

  株式会社リガクX線研究所

• 佐々木 明登

  (株)リガクx線研究所

• 上田 智康

  (株)リガクX線研究所

• 田口 武慶

  (株)リガクX線研究所

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