単板磁気試験器におけるヨーク接合部に基因する測定誤差について

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概要

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• 2000-12-07

著者

• 北 邦郎

  東英工業株式会社

• 山本 孝明

  東英工業株式会社

• 笹谷 孝嗣

  東英工業株式会社

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