REBCO薄膜導体における引張り歪み印加時の交流損失特性
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概要
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- 2005-06-16
著者
-
塚本 修巳
横浜国立大学
-
鈴木 浩之
横浜国大
-
関根 直樹
横浜国立大学
-
小高 隼介
横浜国立大学
-
鈴木 浩之
横浜国立大学
-
CISZEK Marian
Institute of Low Temperature and Structure Research
-
チシェック マリアン
横浜国立大学
-
チシェック マリアン
ポーランド科学アカデミー
-
Ciszek M.
Yokohama National University
-
Ciszek M
ポーランド科学アカデミー
-
Ciszek Marian
横浜国大・工
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