Nanometer-Scale Characteriazation by Scanning Tuneling Microscopy
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概要
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- 2001-09-25
著者
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Gourdon A.
Cemes-cnrs
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Folsch S.
Institut Fur Experimentalphysik Freie Universitat Berlin
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MEYER G.
Paul-Drude-Institut fur Festkorperelektronik
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REPP J.
Institut fur Experimentalphysik, Freie Universitat Berlin
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MORESCO F.
Institut fur Experimentalphysik, Freie Universitat Berlin
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HLA S.
Institut fur Experimentalphysik, Freie Universitat Berlin
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RIEDER K.
Institut fur Experimentalphysik, Freie Universitat Berlin
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TANG H.
CEMES-CNRS
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JOACHIM C.
CEMES-CNRS
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Repp J.
Institut Fur Experimentalphysik Freie Universitat Berlin
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Moresco F.
Institut Fur Experimentalphysik Freie Universitat Berlin
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Rieder K.
Institut Fur Experimentalphysik Freie Universitat Berlin
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Hla S.
Institut Fur Experimentalphysik Freie Universitat Berlin