ADVANCES IN HIGH-K GATE DIELECTRIC AND METAL GATE TECHNOLOGY USING ATOMIC LAYER CVD^<TM>
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概要
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- 2002-06-06
著者
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Maes J.
Asm Belgium
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DE WAARD
ASM America
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WERKHOVEN C.
ASM America
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RITTERSMA Z.
Philips Research Leuven
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MASSOUBRE D.
Philips Research Leuven