バウンダリスキャン検査技術の現状と今後の動向

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概要

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• 1997-01-20

著者

• 河井 誠

  松下電器産業株式会社機械研究所

• 塗矢 康三

  松下電器産業株式会社AVC商品開発研究所

• 平山 勝啓

  松下電子工業株式会社LSI開発センタ

• PARKER Kenneth

  ヒュｰレット･パッカｰド株式会社製造テスト事業部

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