Improved Uncertainty of Optical Frequency Domain Reflectometry Based Length Measurement by Linearizing the Frequency Chirping of a Laser Diode
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概要
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- 2003-08-01
著者
-
覚間 誠一
北海道大学
-
Ohba Ryoji
Division Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Hokkaido University
-
KAKUMA Seiichi
Division of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido University
-
OHMURA Kohhei
Division of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Hokkaido University
-
覚間 誠一
北海道大学大学院工学研究科
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Ohmura Kohhei
Division Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Hokkaido University
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Kakuma Seiichi
Division Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Hokkaido University
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