Multiple beam tilt microscopy for super resolved imaging

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概要

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• Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Pressの論文
• 1997-02-01

著者

• Kirkland A.i.

  Department Of Chemistry University Of Cambridge

• Kirkland A.

  Department Of Chemistry

• Chand G.

  Department Of Engineering

• SAXTON W.

  Department of Materials Science and Metallurgy

• Saxton W.O.

  Department of Materials Science and Metallurgy

関連論文

• Indirect super resolved microscopy in the TEM (〔1999年〕日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム論文集 新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界,学会賞(瀬藤賞)受賞講演〔含 著者索引〕) -- (高分解能電顕法の将来展望)
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