ラインセンサを用いた走査モアレ法による高速高精度形状・欠陥検査

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概要

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• 2001-10-01

著者

• 森本 吉春

  大阪大学基礎工学部機械工学科

• 藤垣 元治

  和歌山大学システム工学部

• 米山 聡

  和歌山大学

• 藤垣 元治

  和歌山大学

• 森本 吉春

  和歌山大学

• 池田 泰之

  和歌山大学大学院

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