陽電子計測の応用1. 半導体の欠陥研究

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本アイソト-プ協会の論文
• 1992-11-15

著者

• 上殿 明良

  東京大学先端科学技術研究センタ-

関連論文

• 陽電子ビーム1.低速陽電子ビームの発生
• 陽電子消滅による電子線照射石英ガラスの欠陥の検出
• 陽電子計測の応用1. 半導体の欠陥研究
• 陽電子消滅の計測と得られる情報 2. ドップラ-拡がり測定と寿命測定

スポンサーリンク