金属薄膜の表面凹凸と物性計測 - 表面ポラリトン特性を利用して -

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概要

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• 応用物理学会の論文
• 1992-12-10

著者

• 福井 萬壽夫

  徳島大工

• 福井 萬壽夫

  徳島大学工学部

• 奥野 雄太郎

  徳島大工

• 福井 萬壽夫

  徳島大学工学部電気電子工学教室

• 奥野 雄太郎

  徳島大学工学部電気電子工学教室

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