アルミ陽極酸化皮膜のエネルギー損失に及ぼすバイアス電圧およびリップル電圧の影響
スポンサーリンク
概要
著者
-
ALWITT Robert
Boundary Technologies Inc.
-
Uchi Hidenori
Nippon Chemi-con Co. Ltd.
-
Uchi Hidenori
Nippon Chemi-con Corporation
-
HASEBE Tomokazu
Chemi-Con Materials Corporation
-
長谷部 朝一
Chemi-Con Materials Corporation
-
内 秀則
Nippon Chemi-Con Corporation
関連論文
- Impedance Properties of Photoelectrochemically and Chemically Prepared Ta/PEDOT Capacitors
- Ta/PEDOT系キャパシタの容量出現率挙動
- アルミ陽極酸化皮膜のエネルギー損失に及ぼすバイアス電圧およびリップル電圧の影響