電子線による高精度原子層レベル分析への挑戦(FE-TEMの立場から)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本金属学会の論文
• 2000-02-20

著者

• 代田 畊平

  株式会社トプコン電子ビームサービス

• 森山 和彦

  トプコンテクノハウス

• 谷中 隆志

  トプコンテクノハウス

• 谷中 隆志

  株式会社トプコン電子ビームサービス

• 森山 和彦

  株式会社トプコン電子ビームサービス

関連論文

• 透過型電子顕微鏡の応用例
• 高角度散乱暗視野法(HAADF)によるステンレス鋼中の高密度欠陥に重なるボイドの同定
• 分析分解能向上の検討2 : EDS,EELSの実際
• Y添加ジルコニアの変調構造の定量元素分析
• 電子線による高精度原子層レベル分析への挑戦(FE-TEMの立場から)
• 分析分解能向上の検討1 レンズ系の検討
• 高分解分析電顕観察のためのセラミックス試料作製
• この人にきく

スポンサーリンク