STEM-XEDSによる薄膜試料の定量分析とマッピング

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概要

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• 2000-05-01

著者

• 渡辺 万三志

  Dept. Of Materials Science And Engineering Lehigh University

• Williams David

  Dept. Biol. Science, Illinois State Univ.

• 渡辺 万三志

  九州大学超高圧電子顕微鏡室

• Williams David

  Dept. Biol. Science Illinois State Univ.

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