X線結晶構造解析による金属-π配位結合の電子密度解析-CCDエリアディテクタの利用と電子密度の新しい解釈方法

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1998-12-01

著者

• 河野 正規

  ポハン工科大学 (postech) Wcu先端物質学科

• 河野 正規

  CREST 東工大理

関連論文

• X線回折で見る分子ダイナミクス
• X線結晶構造解析による金属-π配位結合の電子密度解析-CCDエリアディテクタの利用と電子密度の新しい解釈方法

スポンサーリンク