顕微法基礎部門 Aberration correction in electron microscopy (〔1999年〕日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム論文集 新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界,学会賞(瀬藤賞)受賞講演〔含 著者索引〕) -- (学会賞(瀬藤賞)受賞講演)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1999-11-01

著者

• Lupini A.r.

  Cavendish Laboratory University Of Cambridge

• DELLBY N.

  Nion R&D

• KRIVANEK O.L.

  Nion R&D

• Dellby N.

  Nion R&d

• Krivanek O.l.

  Nion R&d

関連論文

• 顕微法基礎部門 Aberration correction in electron microscopy (〔1999年〕日本電子顕微鏡学会第44回シンポジウム論文集 新しい顕微鏡技術が切り開く生命と物質の世界,学会賞(瀬藤賞)受賞講演〔含 著者索引〕) -- (学会賞(瀬藤賞)受賞講演)

スポンサーリンク