試験体の表面が粗い場合の超音波探触子の等価回路を用いた多重エコーの解析
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概要
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- 1997-11-13
著者
-
亀山 俊平
三菱電機(株) 情報技術総合研究所
-
亀山 俊平
三菱電機(有)情報技術総合研究所
-
和高 修三
三菱電機(有)情報技術総合研究所
-
木村 友則
三菱電機(株)
-
和高 修三
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
-
和高 修三
三菱電機(株)
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