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Precision and Intelligence Laboratory, Tokyo Institute of Technology, 4259-R2-19, Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8503, Japan | 論文
Data Retention and Readout Degradation Properties of Pt/Sr0.7Sm0.07Bi2.2Ta2O9/HfO2/Si Structure Ferroelectric-Gate Field Effect Transistors
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