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NTT System Electronics Laboratories | 論文
- 21pRC-15 第41回国際物理オリンピック(IPhO)日本代表訓練:実験研修(21pRC 物理教育,領域13(物理教育,物理学史,環境物理))
- 28aVE-7 第40回国際物理オリンピック(メキシコ大会)報告(物理教育,領域13,物理教育,物理学史,環境物理)
- 会議報告 9th European Conference on Applied Superconductivity 「EUCAS2009」
- BaZrO_3ナノロッドを導入したSmBa_2Cu_3O_y薄膜における磁束ピンニング特性と微細構造観察
- REBa_2Cu_3O_超伝導薄膜中の1次元ナノロッドの成長に及ぼす成膜条件の効果
- 重イオン照射Er123膜における相関ピンニング特性
- 固相接合によるYBCOテープ線材の接合組織と特性
- 22pZF-5 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験III. : クラスター多重イオン化のレーザー波長・レーザー強度依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 22pZF-4 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験II. : クラスター多重イオン化のサイズ依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 22pZF-3 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験I. : 反跳イオン運動量分光による高次光分布測定(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- ナノロッドを導入したYBCO超電導薄膜の磁場中特性
- REBa2Cu3O7-δ超伝導薄膜中の1次元ナノロッドの成長に及ぼす成膜条件の効果
- エピタキシャルFe-Te-S系超電導薄膜の作製
- 軟X線多層膜鏡の形状誤差補正のための大面積イオン銃を用いたミリング装置の開発
- 超高精細バイオイメージング用波面補正軟X線多層膜ミラーの開発
- 傾斜エリプソメトリーによる3次元形状計測 (特集 偏光計測)
- 偏光利用による3次元リアルタイム計測法の開発
- 正反射による物体表面の傾斜エリプソメトリー : 精密実時間形状計測への基本概念
- X線ミラー多層膜 (特集欄 ナノテクノロジーにおけるものづくり) -- (真空中で作製するナノ構造)
- 軟X線多層膜光学
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