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Faculty of Engineering, The University of Tokyo | 論文
- Growth and Microstructure of Epitaxial Ti3SiC2 Contact Layers on SiC
- 誘電体TiO2/SrTiO3ヘテロ界面の構造と電子状態 (特集 機能元素のナノ材料科学)
- n型半導体SrTiO3単一粒界素子の粒界構造と電気的特性 (特集 原子・電子レベルからの材料界面設計)
- FeTiO_3-Fe_2O_3固溶体薄膜における秩序構造および逆位相境界の直接観察
- セラミックスの粒界偏析のSTEM直接観察
- アルミナ小傾角粒界に形成された特異部分転位構造のTEM解析
- ナノ機能元素の超微細構造解析
- 最近の研究と技術 走査型透過電子顕微鏡法による界面・表面の研究
- Algorithms for Finding the Largest Subtree whose Copies Cover All the Leaves
- X-Ray Standing Wave Analysis of GaAs/Si Interface
- X-Ray Standing Wave Analysis of Al/GaAs/Si(111)
- Z-scheme Overall Water Splitting on Modified-TaON Photocatalysts under Visible Light (λ < 500nm)
- Oxygen Adsorption on Anatase TiO_2 (101) and (001) Surfaces from First Principles
- Improvement of Photocatalytic Activity of Titanate Pyrochlore Y_2Ti_2O_7 by Addition of Excess Y
- Measurement of Local Lattice Distortion in Silicon by Imaging-Plate Plane-Wave X-Ray Topography with Image Magnification
- Time-Resolved X-Ray Diffraction Measurement of Silicon Surface during Laser Irradiation under Grazing-Incidence Conditions
- Novel Analysis System of Imaging-Plate Plane-Wave X-Ray Topography for Characterizing Lattice Distortion in Silicon
- 転位構造制御によるサファイア中への導電性ナノ細線形成
- 電子エネルギー損失分光(EELS)と第一原理計算を組み合わせた原子・電子構造解析
- ELNESと理論計算を組み合わせた結晶界面の原子・電子構造解析