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静岡大学工学部電気・電子工学科 | 論文
- 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 熱陰極直流放電プラズマによる金属表面へのSiC薄膜生成
- C-3-74 デポラライズGAWBSの偏波無依存検出
- GAWBSによる振幅変調信号の偏波依存性
- H_∞-type Problems for Discrete-time Systems
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究:(その2)直流30V-10Aの抵抗性回路内のPd電気接点対での転移突起
- マイクロ波2周波から導出した誘電定数を用いる密度に依存しない含水率測定法
- マイクロ波自由空間技術を用いた水分計測法の比較
- C-5-8 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布の開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-5 直流300V抵抗性負荷回路内において磁気吹き消しされる開離時アーク消弧時のアーク長さの磁石形状依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その10)直流回路での閉成責務動作Ag/Sn9.5wt%接点対での損傷面観察
- ねじりを付与した光ファイバによるモード間干渉計
- GAWBSを利用した光ファイバ引っ張り歪みセンサ
- GAWBSを利用した光ファイバ温度センサ
- 光ファイバ中の導波音響波型ブリルアン散乱の挙動解析
- C-5-1 制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究 : (その17) 開離責務動作Pd接点対における転移突起
- 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
- 開離時アーク後の領域ごとの接点表面状態と接触抵抗(放電,EMC/一般)
- 高電圧直流回路内で横磁界により駆動される開離時アークの消弧直前の電圧の時間変化(放電,EMC/一般)