スポンサーリンク
都立高専 | 論文
- 25pYS-9 低指数入射ronchigramを用いた球面収差係数の精密測定(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 18pTH-9 HAADF STEM像のdeconvolution処理
- 22aYH-4 GaAsの高分解能暗視野STEM像の解析II
- 24aZL-8 GaAsの高分解能暗視野STEM像の解析
- 27aYA-2 HAADF-STMによるSi(110)観察における原子直視性の検証
- 28p-B-5 収束電子線回折像におよぼす不純物原子の効果
- 複合サーボ機構を用いた精密運動制御(第2報) : 微動飽和補償による複合サーボ系の特性
- 複合サーボ機構を用いた精密運動制御 : 動的補償による複合サーボ系の特性
- 31p-C-5 CBED法によるSi中のイオン打ち込みされた不純物濃度分布の決定
- 28a-P-7 収束電子線回折法によるSi中の不純物原子濃度の決定
- 4a-X-7 GaAs, InPにおよぼす熱散漫散乱の効果II
- 3p-X-6 大角度収束電子線回折法による不純物原子のDebye-Waller factor および濃度決定
- 31a-YM-3 InP, InAsの格子像におよぼす熱散漫散乱の効果
- 13a-DL-3 格子像におよぼす熱散漫散乱の効果
- 13a-DL-2 熱散漫散乱(TDS)効果の多波動力学による計算手法
- 29a-ZB-13 InP、InAsの(100)格子像の二次元強度分布
- 29a-ZB-12 高分解能電子顕微鏡像に及ぼす熱散漫散乱(TDS)の効果
- 28a-S-10 高分解能電子顕微鏡像に及ぼす熱散漫散乱(TDS)の効果
- 28a-S-9 InP、InAs(100)格子像
- 30a-L-5 InP、InAs、InSbの格子像 III