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玉川大学 工学部 電子工学科 | 論文

• コネクタ小型化の要求を考慮した超低接触力W-R特性試験
• 位置の統計量と特徴の類似性によるカラー画像の領域分割法
• C-5-6 接触抵抗の非直線性による銅酸化皮膜構造の一考察
• 位置の統計量と特徴の類似性によるカラー画像の領域分割法
• 理想の線形標準抵抗を追い求めて

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