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玉川大・工 | 論文
日本伝熱学会創立50周年記念伝熱セミナーの報告
タイトル無し
3a-A3-6 不純物をドープしたIV族及びIII-V族半導体の格子定数測定による低温での負の膨張係数(3a A3 格子欠陥,格子欠陥)
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