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株式会社日立ハイテクノロジーズ | 論文
- FIBマイクロサンプリングによる薄膜試料作製
- HD-2000超薄膜評価装置の電子回線折機能
- 電子顕微鏡(すごーく小さいもの)
- 日立120kV透過電子顕微鏡H-7500用試料自動検索システム
- 透過電子顕微鏡および走査透過電子顕微鏡
- 1602 オフショア開発におけるプロジェクトマネジメントの現状調査と分析(一般セッション)
- LSI設備安定稼働支援システムの開発
- 電子顕微鏡とその画像処理の実際 (Imaging Today ここまで見える最近の顕微鏡技術)
- 生育光強度とクリプト藻葉緑体微細構造--形態計測
- TEM sample preparation by FIB milling method (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ) -- (共通セッション3 装置)
- サブナノメートル領域の故障解析を実現する半導体デバイス評価システム (特集 最先端半導体デバイスの量産を支えるベストソリューション)
- 日立卓上顕微鏡の構成・特長と応用
- H-7600における自動試料傾斜機能とその応用
- 最新FIBの紹介日立FB-2100形集束イオンビーム装置 (デバイスプロセス評価最前線)
- Bio-TEMの新機能紹介とその応用 (日本顕微鏡学会第48回シンポジウム 材料科学と生命科学のクロストーク--顕微解析の最前線) -- (生物系セッション5 新装置・新技術の生物応用(冠ワークショップ))
- 科学技術力を支える「BOP (Base of Pyramid)」の重要性
- 1601 オフショア開発におけるプロジェクトマネジメント改善事例と考察(一般セッション)
- 雰囲気遮断FIB/STEMシステムを用いた活性材料の構造解析 (検出器・ホルダーの最前線)
- 電界放出電流のショット雑音
- 高活性材料の構造解析のための雰囲気遮断システム