スポンサーリンク

株式会社日立ハイテクノロジーズ那珂事業所 | 論文

• 鉄ナノ粒子が埋め込まれた金細線の ADF 観察
• FIBマイクロサンプリング法による柱状試料の作製とその三次元元素分布像観察
• STEMによる元素分布観察
• 最近の装置開発と将来像
• 透過電子顕微鏡および走査透過電子顕微鏡
• 収差補正STEMの特長 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
• 透過電子顕微鏡(TEM)

• < 前のページ

スポンサーリンク