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株式会社日立サイエンスシステムズ | 論文

• 走査透過電子顕微鏡の球面収差補正とその応用
• STEMにおけるデジタル画像
• Cu(Ti)合金微細配線における極薄バリア層の自己組織形成
• 高温高分解能材料解析技術の開発
• 試料直接加熱による高分解能観察と分析
• 鉄ナノ粒子が埋め込まれた金細線の ADF 観察
• 低真空走査電子顕微鏡の吸収電流像とその生物応用
• FIBマイクロサンプリング法による柱状試料の作製とその三次元元素分布像観察
• 透過電子顕微鏡および走査透過電子顕微鏡

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