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東京工業大学量子ナノエレクトロニクス研究センター | 論文
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析 (信頼性)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析 (レーザ・量子エレクトロニクス)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析 (光エレクトロニクス)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析 (電子部品・材料)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析 (機構デバイス)
- GaInAsP/InP横方向電流注入型半導体薄膜レーザの低しきい値動作化 (レーザ・量子エレクトロニクス)
- SOI基板への直接貼り付け法によるGaInAsP/InP DFBレーザ
- SOI基板への直接貼り付け法によるGaInAsP/InP DFBレーザ
- C-3-59 金属ミラー付き多層アモルファスシリコン細線導波路間のグレーティングカプラ(シリコンフォトニクス,C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)
- C-4-15 GaInAsP横方向接合型薄膜フォトダイオードの特性評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- C-3-93 InP系横接合型半導体薄膜能動光素子と細線光導波路のテーパー結合(導波路解析,C-3.光エレクトロニクス,一般セッション)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- GaInAsP/InP半導体薄膜DFBレーザの電流注入動作と熱特性解析(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- GaInAsP/InP横方向電流注入型半導体薄膜レーザの低しきい値動作化(半導体レーザ関連技術,及び一般)
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