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日立電子エンジニアリング | 論文
- 実装プリント板の寸法・平面度の検査に用いられる最近の技術(高密度実装プリント板の検査技術)
- 終端抵抗選択方式
- 半導体レーザ斜方照明光学系における照度分布測定装置の開発
- 「検査技術」(第 13 回エレクトロニクス実装学術講演大会印象記)
- 半導体・液晶製造における異物検査システム (特集:生産における光技術)
- LCDおよびディスク部品の異物・欠陥検出技術
- LSI製造における異物検査
- 磁気異方性センサによる機械的応力の非接触測定
- 簡易型自動焦点検出光学系の開発/ダイヤモンド電着エンドレスマルチワイヤ切断機の試作