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日立ハイテクノロジーズ | 論文
- 集束イオンビームを利用したマイクロマシニングとデバイス移植
- 遺伝子検査は今 : 遺伝子検査の自動化の現状
- Low-k用エッチング装置「U-722」 (全冊特集 実用化段階を迎えた130nm/300mm対応半導体製造装置)
- 612 マイクロサイズ粒状体を用いた高速乗り物の制振特性に関する検討(機械力学・計測制御V)
- G403 流路配管系設計用流動シミュレータの開発(GS4 閉空間内の流れ,一般セッション)
- S12-08 イトカワにおける宇宙風化(口頭セッション12:はやぶさ,口頭発表)
- 単原子電子源周辺の新物理現象
- 多次元空間におけるモデルベースト欠陥検出
- 電界放出形電子顕微鏡の実用化
- 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術 (特集 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術)
- 余剰パターンに対してロバストなテンプレートマッチングの一考察
- 多次元空間におけるモデルベースド欠陥検出
- 電子線トモグラフィー用自動撮影システムにおける新規ドリフト補正
- O31-8 マルチウェルSPRイメージングによる即時型アレルギー診断法の開発(O31 アレルギーと抗体,口演,第63回日本アレルギー学会秋季学術大会)