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日本電気株式会社デバイス評価技術研究所 | 論文

• 静電誘導による半導体デバイスの故障メカニズム
• 不純物イオンによるアクティブマトリクス型LCDの表示残像
• 不純物イオンによるアクティブマトリクス型LCDの表示残像
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