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日本電子（株） | 論文

• サブÅオーダの微振動を抑制する透過型電子顕微鏡用耐騒音試料ホルダの開発
• 電子光学的剛性設計による透過型電子顕微鏡の耐振性の改善
• Specimen Size Effect of Interface Strength Distribution Induced by Grain Structure of Cu Line

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