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日本電子株式会社 | 論文
- ICCG法のデュアルコアPC上での並列性能評価(HPC-16 : 数値計算)
- B25 粘土鉱物のTEM-EDS分析におけるSDD検出器およびX線ポリキャピラリの利用(口頭発表,一般講演)
- LEEM用エネルギーフィルタの開発
- 累積膜分光結晶の特性 : X線・粒子線
- 14a-H-10 走査型電顕による透過電子像の観察
- WS3-2 位相差電子顕微鏡法の装置上の特長(A.原理と実践,ワークショップ3 位相差電子顕微鏡の組織化学への適用,第46回日本組織細胞化学会総会・学術集会)
- 集束イオンビームによる新しいTEM試料作製法の開発再加工が可能な方法
- 1p-M-5 WO_3系のEXAFS解析
- 1a-M-3 マイコンを用いたSSD付4軸回折計の開発
- SSDを用いた白色X線用4軸回折計(実験室)
- 3p-AD-1 異常散乱による位相決定の試み
- 10a-Z-8 白色X線用4軸回折計による異常散乱差パタソン
- 7p-H-7 異極鉱の極性決定
- 先端的透過電子顕微鏡法によるSm-Co系永久磁石の微細組織と磁区構造評価
- 空圧位置決め系の安定化制御
- ナノティップ電界放射電子銃の開発
- スリランカ産泥質グラニュライト中のザクロ石の組成累帯構造 : 主要4元素(Fe, Mg, Mn, Ca)
- ガスクロマトグラフィー/飛行時間型質量分析法を用いた原油・石油製品のタイプ分析
- 試料ドリフト補正による高倍率EDSマッピング
- 高輝度電子銃の開発 (分析電顕のハード最前線)