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日本電子株式会社応用研究センター | 論文
- ナノテクノロジーをサポートするSIM像の応用
- 8p-B-2 α-Cu-Al(111)表面の相転移の走査型LEED顕微鏡による観察II
- 観察装置としての集束イオンビームの応用
- 低真空走査型電子顕微鏡を利用したプランクトン観察のための新しい凍結乾燥法とその応用
- 皮膚石灰沈着症の石灰化物質の解析
- Z-コントラストとドリフト補正EDSマッピングによるアルミニウム合金中の板状析出物の高分解能極微小領域分析
- 高分解能FE-SEMによるEDS分析における問題点とその解決法
- 集束イオンビームによる新しいTEM試料作製法の開発再加工が可能な方法
- 3p-Q-10 シリコン中の不純物酸素析出に伴う不純物赤外及び遠赤外吸収スペクトルの変化
- ESRイメージングの速度論的展開の試み
- 螢光X線による岩石中の微量元素の自動分析
- 螢光X線による珪酸塩岩石の主成分元素の自動分析
- W20-(4) 電子スピン共鳴装置を用いた生体内 REDOX 反応の検出
- 観察装置としての集束イオンビームの応用
- PC-SEMにおけるデジタル画像-デジタルSEM画像入門-
- 臭素化ダイオキシン類及び臭素化ジフェニルエーテルの熱分解挙動とガスクロマトグラフィー/質量分析法に関する研究
- Analysis of the Calcified Materials from Calcinosis Cutis