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日本電子:JST-CREST | 論文
- 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
- 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 収差補正200kV TEM・STEM (特集:収差補正技術を用いた応用研究最前線)
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))