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九州大学超高圧電顕室 | 論文
DRAM 用誘電体Ba_xSr1_TiO_3スパッタ膜の微細構造
収束電子回折によるYBa_2Cu_3O_y内の酸素濃度変動の測定
超高圧電子顕微鏡による鉄鋼極厚試料観察
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