宮川 高志 | 株式会社ルネサステクノロジ品質保証統括部信頼性技術グループ

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概要

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• 同名の論文著者
• 株式会社ルネサステクノロジ品質保証統括部信頼性技術グループの論文著者

関連著者

• 多田 哲生

  徳島文理大学大学院工学研究科

• 小山 健

  徳島文理大学大学院工学研究科

• 宮本 和俊

  株式会社ルネサステクノロジ品質保証統括部

• 宮川 高志

  株式会社ルネサステクノロジ品質保証統括部信頼性技術グループ

• 市来 勉

  株式会社ルネサステクノロジ

著作論文

• シミュレーションによるLSIゲート酸化膜破壊の特性評価(LSIのテスト・評価技術)

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