Wang Yijiao | Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China.

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China.の論文著者

関連著者

• Wang Yijiao

  Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China.

著作論文

• Impact of random discrete dopant in extension induced fluctuation in gate–source/drain underlap FinFET

スポンサーリンク