Kim Youngseok | ISIR, Osaka University, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan.

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概要

• 同名の論文著者
• ISIR, Osaka University, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan.の論文著者

関連著者

• Kim Youngseok

  ISIR, Osaka University, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan.

著作論文

• Effect of electromigration on mechanical shock behavior in solder joints of surface mounted chip components

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