宝藏寺 裕之 | 株式会社日立製作所日立研究所

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概要

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• 株式会社日立製作所日立研究所の論文著者

株式会社日立製作所日立研究所 | 論文

• Sn-Cuめっきリードの室温におけるウィスカ発生・抑制機構
• 電子・情報デバイスの材料戦略概要
• 電解Ni/Auめっきを用いたBGA鉛フリーはんだ接合部の衝撃信頼性におよぼすNiめっき条件の影響
• 無電解めっきを用いたBGAはんだ接合部の衝撃信頼性の検討
• 実装技術の材料戦略

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