Yamaguchi Tomuo | Research Institute of Electronics, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Hamamatsu 432, Japan

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Research Institute of Electronics, Shizuoka University, 3-5-1 Johoku, Hamamatsu 432, Japan | 論文

• Characterization of Interface Layer of Silicon on Sapphire Using Spectroscopic Ellipsometry

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