本庄 五郎 | 東京工業大学

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著作論文

• 制限視野回折を目的とした電子顕微鏡試料装置 : X. 電子線・X線
• 電子回折強度の加速電圧及び温度による変化 : 電子線回折による結晶構造の解析
• X線によるBaTiO3の格子振動の研究
• 薄膜のエピタクシャル成長 : 電顕による"その場"観察
• 14G-16 低温電子回析法による氷の研究 第II報(X線,電子線)

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